Mikroskopiya asoslari: Sinishi, sinishi indeksi va linzalarning ishlashi
Sinishi, sinishi indeksi
Yorug'lik bir jinsli izotrop muhitda ikkita nuqta o'rtasida to'g'ri chiziq bo'ylab tarqaladi. Turli xil zichlikdagi muhitning shaffof ob'ektidan o'tayotganda sinishi sodir bo'ladi, bu yorug'likning turli muhitlarda tarqalish tezligining har xilligi tufayli yuzaga keladi.
Shaffof sirtga perpendikulyar bo'lmagan yorug'lik shaffof jismga (masalan, shisha) havodan kirsa, yorug'lik interfeysida yo'nalishini o'zgartiradi va normal bilan sinishi burchagi hosil qiladi.
Ob'ektiv ishlashiØ Linzalar mikroskopning optik tizimini tashkil etuvchi asosiy optik elementlardir. Ko'zoynaklar, ob'ektivlar va kondensatorlar kabi komponentlar bitta yoki bir nechta linzalardan iborat. Shakliga ko'ra ularni ikkita asosiy toifaga bo'lish mumkin: konveks linzalar (ijobiy linzalar) va konkav linzalar (salbiy linzalar). Ø Optik o'qga parallel bo'lgan yorug'lik nuri qavariq linzadan o'tib, bir nuqtada birlashsa, bu nuqta "fokus nuqtasi" deb ataladi. Bu nuqtadan o'tuvchi va optik o'qga perpendikulyar bo'lgan tekislik "fokal tekislik" deb ataladi. Ikki fokus nuqtasi mavjud: ob'ekt-kosmos markazi va rasm-fazoning fokus nuqtasi.
Mikroskopiya asoslari - Umumiy kattalashtirish
Umumiy kattalashtirish
Ø Ko'zoynak orqali
Umumiy kattalashtirish=Ob'ektiv kattalashtirish × Ko'zoynak kattalashtirish (Agar oraliq kattalashtirish mavjud bo'lsa, oraliq kattalashtirish bilan ham ko'paytiring)
Ø Videoga ulanganda
Umumiy kattalashtirish=Ob'ektiv kattalashtirish × Adapterni kattalashtirish × Videoni kattalashtirish faktori
Ø Videoni kattalashtirish faktori
Displeyning diagonali o'lchami / CCD sensori o'lchami
Mikroskopiya asoslari - Raqamli diafragma
Raqamli diafragma
Raqamli diafragma, NA sifatida qisqartirilgan, ob'ektiv linzalar va kondensatorlarning (ayniqsa, maqsadlar) ishlashini baholash uchun muhim ko'rsatkichdir. NA=n × sin (muhitning sindirish ko'rsatkichi n va diafragma burchagining yarmi sinusining ko'paytmasi 2 ). Diafragma burchagi, shuningdek, "burchakli diafragma" deb ham ataladi, bu optik o'qdagi ob'ekt nuqtasi va ob'ektiv old linza elementining samarali diametri o'rtasida hosil bo'lgan burchakdir. Diafragma burchagi qanchalik katta bo'lsa, linzaga kiruvchi yorug'lik oqimi shunchalik katta bo'ladi{5}}u linzaning samarali diametriga to'g'ridan-to'g'ri proportsional va fokus masofasiga teskari proportsionaldir.
Muhitning sindirish ko'rsatkichi qanchalik yuqori bo'lsa, NA qiymati shunchalik yuqori bo'ladi.
Diafragma burchagi qanchalik katta bo'lsa, NA qiymati shunchalik yuqori bo'ladi.
n=ob'ektiv va namuna o'rtasidagi muhitning sinishi ko'rsatkichi
Odatda maksimal qiymatlar: Quruq ob'ektiv (0,9), Suvga cho'mish ob'ektivi (1,2), Yog'ga botirish maqsadi (1,4), Maxsus maqsad (1,6)
Mikroskopiya asoslari - Ruxsat
Rezolyutsiya
"Rezolyutsiya kuchi" sifatida ham tanilgan piksellar soni mikroskopning ishlashini o'lchash uchun yana bir muhim texnik parametrdir.
Ruxsat=0.61 l / NA (bu erda l - yorug'lik manbasining to'lqin uzunligi va NA - ob'ektiv linzasining raqamli diafragmasidir)
Ko'rinadigan yorug'lik ob'ektivining o'lchamlari ikki omil bilan belgilanadi: ob'ektiv linzalarining NA qiymati va yorug'lik manbasining to'lqin uzunligi. NA qiymati qanchalik katta bo'lsa va yorug'lik nurining to'lqin uzunligi qanchalik qisqa bo'lsa, aniqlik shunchalik yuqori bo'ladi.
Mikroskopiya asoslari-(Maydon chuqurligi)
Mikroskopdan foydalanilganda, ob'ektga e'tibor qaratish nafaqat ushbu fokus tekisligidagi nuqtalarni, balki uning ustidagi va ostidagi ma'lum bir qalinlikdagi nuqtalarni aniq ko'rish imkonini beradi. Aniq qismning bu qalinligi maydon chuqurligidir. Kattaroq maydon chuqurligi namunaning to'liq qalinligini ko'rsatadi, kichikroq chuqurlik esa faqat yupqa qatlamni ko'rsatadi.
Maqsad 
Butun optik tizim: 
